【Intel】第13/14世代Core不安定動作の根本原因が判明。新たなマイクロコードを公開

　調査の結果、最小動作電圧の上昇(Vminシフト)による不安定性問題が、電圧や温度の上昇を引き起こし、IAコア内のクロックツリー回路がその影響を受けて劣化。そしてクロックのデューティサイクルシフトが発生することが、システムの不安定につながる根本原因であると判明した。

　これを受けて、Vminシフトにつながる可能性のある4つの動作中国リオを特定し、それぞれに対する緩和策を提示した。

マザーボードの電力供給設定がIntelの推奨値を超えているケース
→緩和策:Intelのデフォルト設定の適用を推奨
eTVBマイクロコードのアルゴリズムが原因で、高温時であっても高パフォーマンス状態で動作してしまっているケース
→緩和策:マイクロコード「0x125」(6月公開)の適用
マイクロコードのSVIDアルゴリズムが、不具合を引き起こし得る動作周波数や期間で高電圧を要求するケース
→緩和策:マイクロコード「0x129」(8月公開)の適用
アイドル時および低負荷時に、マイクロコードおよびBIOSコードがVminシフトの不具合を引き起こし得る高コア電圧を要求するケース
→緩和策:マイクロコード「0x12B」(新たに公開)の適用

　このうちマイクロコード0x12Bは、0x125および0x129の修正も含むものとなっており、パートナー企業と協力しながらBIOSの提供を順次進めているという。ユーザーに対しては、BIOSのアップデートを通じてマイクロコードを適用するよう呼びかけている。

　今回の投稿内で、辛抱したユーザー、および分析や緩和策におけるパートナー各社のサポートに対して謝辞を述べていることから、新たに提示された4番目の緩和策をもって問題はすべて解決する見込みだ。

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Impress
2024年9月27日 14:00
https://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/1626900.html